波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）

能量色散型X射線熒光光譜儀（ED-XRF）

兩種同屬于X射線熒光分析儀，它們產生信號的方法相同，最后得到的波譜也極為相似，但由于采集數(shù)據(jù)的方式不同，這兩種在原理和儀器結構上有所不同，功能也有區(qū)別。

原理上：

波長色散型熒光光譜儀是用分光近體，將熒光光束色散后，測定各種元素的特征X射線波長和強度，從而測定各種元素的含量。一般由光源（X-射線管），樣品室，分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。

能量色散型熒光光譜儀是借助高分辨率敏感半導體檢查儀器與多道分析器，將未色散的X射線熒光按光子能量分離X色線光譜線，根據(jù)各元素能量的高低來測定各元素的量，由于原理的不同，故儀器結構也不同。

能量色散型熒光光譜儀（ED-XRF） 是借助高分辨率敏感半導體檢查儀器與多道分析器，將未色散的X射線熒光按光子能量分離X色線光譜線，根據(jù)各元素能量的高低來測定各元素的量，由于原理的不同，故儀器結構也不同。

而我們艾克手持光譜儀就是能量色散X熒光光譜儀，樣品跟檢測器彼此靠得越近，X射線的利用率很高，不需要光學聚集，在累計整個光譜時，對樣品位置變化不象波長色散型熒光光譜儀那樣敏感，對樣品形狀也無特殊要求。廣泛應用于合金，地質、冶金、環(huán)境、石化、等眾多領域。